特許
J-GLOBAL ID：200903017073393707
半導体試験装置の波形整形器
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-254359
公開番号（公開出願番号）：特開平8-094722
出願日： 1994年09月22日
公開日（公表日）： 1996年04月12日
要約：
【要約】【目的】 クロックの近接制限を無くし、波形整形回路からの出力信号を高速にする。【構成】 複数のクロック選択回路の各出力端子において、周期T内にクロックが2回発生することがないよう配線されたクロック近接回避回路を設けている。上記条件を満たすクロック近接回避回路は複数あり、その1例を実施例に示している。クロック選択回路は、入力クロック信号CLKA、CLKB、CLKCを選択して、RSフリップフロップをセットする端子、リセットする端子に出力する。クロック選択回路は複数あり、それぞれ出力されるクロック信号を、各信号に対応した複数のパルサー回路で細いパルスに変換する。複数のパルサー回路を出力した信号は、S入力信号とR入力信号に論理和され、RSフリップフロップのセット端子、リセット端子に入力する。S入力、R入力により、RSフリップフロップが動作し、目的とする波形整形した出力信号を得る。
請求項（抜粋）：
複数のクロック選択回路(20)の各出力端子において、周期T内にクロックが2回発生することがないよう配線されたクロック近接回避回路(30)と、入力クロック信号を選択して出力する複数のクロック選択回路(20)と、複数のクロック選択回路(20)から出力されるクロック信号を、それぞれ細いパルスに変換する複数のパルサー回路(22及び23)と、複数のパルサー回路(22)の出力を論理和したS入力(26)と、パルサー回路(23)の出力を論理和したR入力(27)とで制御し、波形整形した出力(24)を発生するRSフリップフロップ(21)と、を具備することを特徴とする半導体試験装置の波形整形器。
引用特許：
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