自動分析装置

発明者： , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：作田康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-255439
公開番号（公開出願番号）：特開2003-066051
出願日： 2001年08月27日
公開日（公表日）： 2003年03月05日
要約：

【要約】【課題】試料測定中に発生した不具合の摘出を、ユーザの知識や技術力に頼ることなく、特別な試料の測定などの作業を追加せずに実現し、ユーザのレベルに関係なく正確な測定結果を得ることができる自動分析装置を実現する。【解決手段】測定された反応過程吸光度について測定値の算出に不適切な吸光度の有無を判定し、測定値の算出に不適切な吸光度が複数成分または複数試料で検出されたら、それらの測定条件について吸光度の測定に関与する部位の中で、共通する部位を検索する。共通する部位がある場合は、操作部にある画面などから、不具合発生および不具合発生部位をユーザに知らせる。

請求項（抜粋）：

試料と試薬を混合し、試料中の目的成分と試薬を反応させ、該混合液を光学的に測定する手段を備え、かつ上記反応の経時変化を記憶する記憶部を備えた自動分析装置において、前記記憶部に記憶された複数試料の反応の経時変化から、各試料の測定値に共通する異常値の有無を探索する探索手段を備え、該探索手段の探索結果に基づき、自動分析装置の異常原因を推定する推定手段を備えたことを特徴とする自動分析装置。

FI (2件)：

G01N 35/00 F , G01N 35/00 A

Fターム (8件)：

2G058CB03 , 2G058CC03 , 2G058CD03 , 2G058GB08 , 2G058GD01 , 2G058GD05 , 2G058GE09 , 2G058GE10

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