特許

J-GLOBAL ID：200903017097681061

印刷物内に浸透したインキの分布又は浸透状態を解析する印刷物の分析方法

発明者： 内村 浩美
出願人/特許権者： 財務省印刷局長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-109651
公開番号（公開出願番号）：特開2002-310956
出願日： 2001年04月09日
公開日（公表日）： 2002年10月23日
要約：

【要約】【課題】 印刷物の断面が平滑で且つ自然の状態を維持できる方法で断面を作製し、インキの分布または浸透状態を解明し、製品コストの低減及び開発時間の短縮をはかる。【解決手段】 印刷物を集束イオンビーム装置を用いて切断した(処理A)後、印刷物の断面の走査型電子顕微鏡(SEM)による撮像から分析する分析処理(処理B)、印刷物の断面の走査型電子顕微鏡(SEM)による拡大撮像から分析する分析処理(処理B’)、印刷物の断面表面の光学顕微鏡による撮像から分析する分析処理(処理C)、印刷物の断面の波長分散型X線分析装置(EPMA)の低レベル分析及び又は高レベルによる分析処理(処理D1及び又はD2)、のうちの何れかの分析手段を複数組み合わせることにより、インキの分布または浸透状態を解明することができる。第1の方法としては、前記印刷物の断面を分析処理(処理B)した画像と、前記分析処理(処理C)した画像中のインキの濃度画像とを重ね合わせることにより、浸透したインキの分布状態を解明することができる。

請求項（抜粋）：

印刷物を集束イオンビーム装置(FIB)を用いて切断し、前記切断された印刷物の断面を走査型電子顕微鏡(SEM)により撮像し、前記切断された印刷物の断面を光学顕微鏡により撮像し、前記走査型電子顕微鏡(SEM)による撮像画像と前記光学顕微鏡による撮像画像中のインキの濃度画像とを重ね合わせることにより、印刷物内に浸透したインキの分布状態を解析することを特徴とする印刷物の分析方法。

Fターム (12件)：

2G001AA03 ,  2G001AA05 ,  2G001BA07 ,  2G001CA03 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001JA12 ,  2G001KA05 ,  2G001LA05 ,  2G001RA03