特許

J-GLOBAL ID：200903017133680174

実装部品検査装置

発明者： 藤井 良樹 ,  石羽 正人 ,  山本 則仁 ,  北川 博
出願人/特許権者： オムロン株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 由充
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-359121
公開番号（公開出願番号）：特開平6-201340
出願日： 1992年12月26日
公開日（公表日）： 1994年07月19日
要約：

【要約】【目的】膨大な記憶容量の部品種テーブルを必要とせず、部品種テーブルへの登録操作の手数を大幅に軽減する。【構成】検査用データとして必要な情報を登録しておく部品種テーブル19をもつ。部品種テーブル19は複数種のウィンドウ情報と複数種のパラメータ情報とが個別に格納されたウィンドウ情報テーブル31およびパラメータ情報テーブル32を有し、部品種別情報テーブル30には部品種毎にいずれかウィンドウ情報およびパラメータ情報を指定するための指定情報が組にして格納される。検査用データの教示に際し、部品の選択が行われると、部品種別情報テーブル30の指定情報が参照されて該当するウィンドウ情報およびパラメータ情報が各テーブル31,32より読み出されて教示される。

請求項（抜粋）：

基板を撮像して得られた画像により、基板上に実装された複数の部品の実装品質を、あらかじめ教示された各部品の検査用データを用いて検査する実装部品検査装置において、前記検査用データとして必要な情報を部品種毎にあらかじめ登録しておくためのメモリを備え、前記メモリには、部品種毎に必要な情報を記憶させるための部品種別情報記憶部と、部品の画像上に検査領域として設定されるウィンドウに関する情報が複数格納されたウィンドウ情報記憶部と、検査に必要なパラメータに関する情報が格納されたパラメータ情報記憶部とが設けられると共に、前記部品種別情報記憶部には、部品種毎に前記ウィンドウ情報記憶部のいずれかの情報を指定するための情報と前記パラメータ情報記憶部のいずれかの情報を指定するための情報とが組にして格納されて成る実装部品検査装置。

IPC (5件)：

G01B 11/24 ,  G01N 21/88 ,  H05K 13/08 ,  H01L 21/66 ,  H05K 3/34

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭62-190448
  
• 特開昭63-106502