特許
J-GLOBAL ID:200903017136088616

光ファイバセンサを用いた歪み計測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 志賀 正武 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-211647
公開番号(公開出願番号):特開2000-046528
出願日: 1998年07月27日
公開日(公表日): 2000年02月18日
要約:
【要約】【課題】 土砂・地盤崩落あるいは人工構造物、建築物崩壊等の予兆を自動的にかつリアルタイムにて効率良く行うことを可能とする。【解決手段】 光ファイバ心線1aからなり、複数箇所に光ファイバ心線1aを巻き付けたファイバ巻き付け部31を有する光ファイバセンサ1を地盤Gの概ね深度方向へ配設して地盤Gと一体化させる。光ファイバセンサ1へ測定光を入射させる光パルス試験器と、光パルス試験器をコントロールするとともにデータ処理を行うコンピュータとを有する歪み計測装置部を設ける。光パルス試験器から光ファイバセンサ1へ光を入射させ、入射光の周波数からずれたブリルアン散乱光の有無を検出することにより、光ファイバセンサ1が土砂の変位によって伸び歪みが生じたことを検出するとともに伸び歪みが光ファイバセンサ1のどのファイバ巻き付け部31間の区間にて生じているかを検出する。
請求項(抜粋):
地盤や構造物等の被計測物にあるいは該被計測物に沿って配設した光ファイバ心線(1a)よりなる光ファイバセンサ(1)へ測定光を入射し、この光ファイバセンサの区間毎における伸び歪みをこの光ファイバセンサからのブリルアン散乱光の有無から検出し、この検出結果から前記被計測物の変位の有無及び変位の位置を前記区間毎に求めることを特徴とする光ファイバセンサを用いた歪み計測方法。
IPC (2件):
G01B 11/16 ,  G01D 21/00
FI (2件):
G01B 11/16 Z ,  G01D 21/00 D
Fターム (12件):
2F065AA02 ,  2F065AA65 ,  2F065CC14 ,  2F065EE01 ,  2F065FF00 ,  2F065LL02 ,  2F065QQ44 ,  2F076BA18 ,  2F076BB09 ,  2F076BD02 ,  2F076BD06 ,  2F076BD17

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