特許

J-GLOBAL ID：200903017183275521

写真測量方法および写真測量画像処理装置

発明者： 中山 利宏
出願人/特許権者： 旭光学工業株式会社
代理人 (1件)： 松浦 孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-220795
公開番号（公開出願番号）：特開2001-041745
出願日： 1999年08月04日
公開日（公表日）： 2001年02月16日
要約：

【要約】【課題】 簡易な作業によって高精度の測量図を得る。【解決手段】 第1、第2および第3カメラ位置M1、M2およびM3から撮影し、第1、第2および第3画像を得る。3枚の画像にターゲット30を移し込む。第3カメラ位置M3は、第1および第2カメラ位置M1およびM2よりターゲット30に近い。第1光軸O1と第2光軸O2との第1開き角δ1より、第2光軸O2と第3光軸O3との第3開き角δ3が大きく、また第1開き角δ1および第3開き角δ3より第1光軸O1と第3光軸O3との第2開き角δ2が大きい。3枚の画像を用いてカメラ位置および光軸の傾きを算出し、第1および第2画像に基づいて任意の物点の3次元座標を算出する。

請求項（抜粋）：

複数の基準点を有するターゲットを所定位置に設け、この所定位置からそれぞれ所定の距離だけ離れた第1、第2および第3カメラ位置から撮影を行って、第1、第2および第3画像を得る画像取得ステップと、前記第1、第2および第3画像における前記基準点の写真座標と前記ターゲットの寸法形状とに基づいて、前記第1および第2カメラ位置の座標と、前記第1および第2カメラ位置における第1および第2光軸の傾きとを含むカメラパラメータを算出するカメラパラメータ算出ステップと、前記第1および第2画像において、共通に含まれる物点を指定してその写真座標を求める物点指定ステップと、前記カメラパラメータと前記物点の写真座標とに基づいて、所定の座標系における前記物点の3次元座標を算出する3次元座標算出ステップと、前記物点の3次元座標に基づいて測量図を作成する測量図作成ステップとを備え、前記第1および第2光軸により形成される第1開き角より、前記第1および第3光軸により形成される第2開き角が大きく、さらに前記第1開き角より、前記第2および第3光軸により形成される第3開き角が大きいことを特徴とする写真測量方法。

IPC (4件)：

G01C 11/00 ,  G01B 11/26 ,  G01C 15/00 ,  G01C 15/06

FI (4件)：

G01C 11/00 ,  G01B 11/26 H ,  G01C 15/00 A ,  G01C 15/06 T

Fターム (13件)：

2F065AA04 ,  2F065AA32 ,  2F065DD03 ,  2F065DD06 ,  2F065FF05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP05 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065SS13