特許

J-GLOBAL ID：200903017191035343

光学式非接触変位測定方法およびそれに用いられる補助具

発明者： 井頭 賢一郎 ,  西尾 光司
出願人/特許権者： 株式会社先進材料利用ガスジェネレータ研究所
代理人 (1件)： 曽々木 太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-047244
公開番号（公開出願番号）：特開平10-227613
出願日： 1997年02月13日
公開日（公表日）： 1998年08月25日
要約：

【要約】【課題】 試験片を複雑な形状とすることなく、変位測定がなし得る光学式非接触変位測定測定方法を提供する。【解決手段】 試験片Tに補助具1を一対装着して変位測定のためのスリット4を形成した後、引張試験をなすものである。

請求項（抜粋）：

試験片に補助具を一対装着して変位測定のためのスリットを形成した後、引張試験をなすことを特徴とする光学式非接触変位測定方法。

IPC (3件)：

G01B 11/00 ,  G01B 11/16 ,  G01N 3/06

FI (3件)：

G01B 11/00 F ,  G01B 11/16 H ,  G01N 3/06