特許

J-GLOBAL ID：200903017225942060

イオンまたは分子フィルタおよびこのフィルタを用いたイオンまたは分子分析装置

発明者： 冨田 勝彦
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-356450
公開番号（公開出願番号）：特開2000-180313
出願日： 1998年12月15日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：

【要約】【課題】 分離装置を用いずに、多孔質材料中や電界中におけるイオンや分子を容易に、かつ、短時間でふるいに掛けることができ、試料溶液中のイオンや分子量を測定する。【解決手段】 基板1に形成された孔3内に電気収縮性のフィルム状の高分子ゲル10をその周囲を固定した状態で設け、この高分子ゲル10に直流電圧を連続的に変化させて印加し、高分子ゲル10を収縮させることにより、高分子ゲル10に微量の流体を通過させる任意の微孔11を形成する。

請求項（抜粋）：

基板に形成された孔内に電気収縮性のフィルム状の高分子ゲルをその周囲を固定した状態で設け、この高分子ゲルに直流電圧を連続的に変化させて印加し、高分子ゲルを収縮させることにより、前記高分子ゲルに微量の流体を通過させる任意の微孔を形成することを特徴とするイオンまたは分子フィルタ。

IPC (5件)：

G01N 1/10 ,  B01D 61/14 ,  G01N 27/28 ,  G01N 27/49 ,  G01N 30/48

FI (6件)：

G01N 1/10 B ,  B01D 61/14 ,  G01N 27/28 M ,  G01N 30/48 P ,  G01N 30/48 G ,  G01N 27/46 306

Fターム (26件)：

4D006GA06 ,  4D006GA07 ,  4D006HA41 ,  4D006JA01A ,  4D006KE13P ,  4D006MA03 ,  4D006MA22 ,  4D006MC10 ,  4D006MC16 ,  4D006MC24 ,  4D006MC27 ,  4D006MC36 ,  4D006MC37 ,  4D006MC38 ,  4D006MC40 ,  4D006MC61 ,  4D006MC68 ,  4D006MC81 ,  4D006MC82 ,  4D006NA37 ,  4D006NA50 ,  4D006PB09 ,  4D006PB12 ,  4D006PB17 ,  4D006PC38 ,  4D006PC80