特許

J-GLOBAL ID：200903017235911910

昇温脱ガス分析装置

発明者： 白水 達也 ,  藤野 直彦
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 児玉 俊英
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-353849
公開番号（公開出願番号）：特開2001-165829
出願日： 1999年12月14日
公開日（公表日）： 2001年06月22日
要約：

【要約】【課題】 試料からの発生する脱ガス成分が、昇温脱ガス分析装置の加熱炉及び脱ガス経路へ再付着することを防ぎゴーストピークを抑制するとともに、高感度な脱ガス分析データを得ることができる昇温脱ガス分析装置を提供する。【解決手段】 加熱ランプ1、加熱ランプ1の照射光を透過する透過部8と照射光を吸収する光吸収部7とを有し、内部に試料2を収納することができる加熱炉3、試料2から発生する脱ガスを分析する分析計5、加熱炉3と分析計5とを連結し、照射光を吸収する光吸収部7を有する脱ガス経路4を備えることによって、試料2、加熱炉3およびた脱ガス経路4を同時に昇温して加熱炉3およびた脱ガス経路4へ脱ガスが吸着されないようにした。

請求項（抜粋）：

加熱ランプ、この加熱ランプの照射光を透過する透過部と上記照射光を吸収する高光吸収性物質を含む光吸収部とを有し、内部に試料を収納することができる加熱炉、上記試料からの脱ガスを分析する分析計、上記加熱炉と上記分析計とを連結し、上記照射光を吸収する高光吸収性物質を含む光吸収部を有する脱ガス経路を備えたことを特徴とする昇温脱ガス分析装置。

IPC (4件)：

G01N 1/22 ,  G01N 1/28 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/06

FI (4件)：

G01N 1/22 R ,  G01N 27/62 F ,  G01N 30/06 Z ,  G01N 1/28 T