特許

J-GLOBAL ID：200903017242571520

ディザードA/D変換器をテストする回路と方法

発明者： スティーヴン ロバート ノースワーシィー ,  デビッド アーサー リッチ ,  ロバート ダブリュー.ウォルデン
出願人/特許権者： エイ・ティ・アンド・ティ・コーポレーション
代理人 (1件)： 三俣 弘文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-131232
公開番号（公開出願番号）：特開平7-321653
出願日： 1995年05月02日
公開日（公表日）： 1995年12月08日
要約：

【要約】【目的】 ディザードA/D変換器をテストする回路と方法を提供する。【構成】 本発明のディザードA/D変換器100は、A/D変換器200、と、ディジタル信号プロセッサ500と、ディジタルディザー信号生成器400と、ディザー信号生成器400とディジタル信号プロセッサ500、515の1つを選択的にコンバータ200、205内の信号パスに接続する信号結合装置300とを含む。M(正整数)-ビットのディジタルディザー信号生成器400を有するディザードA/D変換器200をテストする方法において、M-ビットの周期信号を生成するステップと、ディザー信号生成器400により生成されたディザー信号の代わりに、ディザードコンバータ200の信号パスに沿って、ある点で生成された信号をディザードコンバータ200に提供するステップと、コンバータ200により生成されたディジタル出力信号を測定するステップとを有する。

請求項（抜粋）：

(A)信号パスを有するA/D変換器(200、205)と、(B)ディジタル信号プロセッサ(500、515)と、(C)ディジタルディザー信号生成器(400)と、(D)前記ディザー信号生成器(400)と前記ディジタル信号プロセッサ(500、515)の1つを選択的に、前記A/D変換器(200、205)内の信号パスに接続する信号結合装置(300)と、からなることを特徴とするディザードA/D変換器のテスト回路。

IPC (3件)：

H03M 1/10 ,  H03M 1/08 ,  H03M 3/04

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平4-246916
  
• 特開平4-093675
  
• 特開平4-150415