半導体レーザ装置および光量制御装置、画像形成装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：谷義一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-233093
公開番号（公開出願番号）：特開平11-074618
出願日： 1997年08月28日
公開日（公表日）： 1999年03月16日
要約：

【要約】【課題】バックビームを発生する複数の発光部間の熱干渉によるフロントビーム出力光量の変動をなくし、ひいては高品質な画像を得ることが可能な半導体レーザ装置および光量制御装置、画像形成装置。【解決手段】半導体レーザチップ34上に備えられた複数の発光部34の第2発光面34c,34dから出力された複数のバックビームを、バックビーム検出手段の各光検出部に各々独立して検出し、各発光部毎にリアルタイムで光量制御を行うことにより、第1発光面34a,34bから出力されるフロントビームの出力光量の変動をなくすようにする。

請求項（抜粋）：

半導体レーザチップの一端面に形成されたフロントビームを出力する第1発光面と、当該半導体レーザチップにおける第1発光面とは反対側の端面に形成され前記フロントビームに対応したバックビームを出力する第2発光面とが形成された複数の発光部と、前記半導体レーザチップの前記発光部の第2発光面に対向して設けられ、該第2発光面から出力された前記複数のバックビームを各々独立して検出する複数の光検出部を有するバックビーム検出手段とを具えたことを特徴とする半導体レーザ装置。

IPC (2件)：

H01S 3/18 , B41J 2/44

FI (2件)：

H01S 3/18 , B41J 3/00 D

引用特許：

審査官引用 (9件)

特開昭63-234584
特開平4-302191
特開平2-106989

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