特許
J-GLOBAL ID：200903017289717400
ATMスイツチのパス試験方式
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
穂坂 和雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-232826
公開番号（公開出願番号）：特開平5-075639
出願日： 1991年09月12日
公開日（公表日）： 1993年03月26日
要約：
【要約】【目的】本発明はATMスイッチのパス試験方式に関し,テストセルを収集する側でセルのスイッチの正常性の識別とパス上でのハード障害の検出とを可能にすることを目的とする。【構成】ATMスイッチの入力側の送信トランクにテストセル発生部を出力側の受信トランクにテストセル判定部を備え,テストセル発生部はテストセルのヘッダにテストセル識別子を設定する手段と情報フィールドに規則性のあるデータを発生する手段を設ける。テストセル判定部は受信したセルのヘッダからテストセルの識別子を検出する手段と,情報フィールドのデータに規則性があることを検出する規則性検出手段とを備え,試験用セルを送信した時にテストセル判定部においてヘッダからのテストセル識別子の検出とデータの規則性の検出の両検出結果により試験結果を判定するよう構成する。
請求項（抜粋）：
ATMスイッチのパス試験方式において,ATMスイッチの入力側の送信トランクにテストセル発生部を,出力側の受信トランクにテストセル判定部をそれぞれ備え,前記テストセル発生部はテストセルのヘッダにテストセル識別子を設定する手段と情報フィールドに規則性のあるデータを順次発生する手段とを備え,前記テストセル判定部は受信したセルのヘッダからテストセルの識別子を検出する手段と,情報フィールドのデータに規則性があることを検出する規則性検出手段とを備え,試験用セルを送信した時にテストセル判定部においてヘッダからのテストセル識別子の検出とデータの規則性の検出の両検出結果により試験結果を判定することを特徴とするATMスイッチのパス試験方式。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04L 11/20 Z
, H04L 11/12
