特許
J-GLOBAL ID：200903017293820398
磁気ヘツド浮上量測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大島 陽一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-250521
公開番号（公開出願番号）：特開平5-099629
出願日： 1991年09月03日
公開日（公表日）： 1993年04月23日
要約：
【要約】【目的】 浮上量の変動の要因を磁気ヘッドの変動と円板下面の面振れとに別けて測定でき、かつ照射光の可干渉距離を超える浮上量の測定も可能な廉価な磁気ヘッド浮上量測定装置を提供するるようにした磁気ヘッド浮上量測定装置を提供する。【構成】 浮上量測定手段を、第一の基準位置から磁気ヘッドまでの距離を測定する第一の距離測定手段と、第二の基準位置から円板までの距離を測定する第二の距離測定手段とから構成し、両距離から磁気ヘッドの浮上量を測定することで、絶対距離を測定する公知の距離測定方法をそのまま利用でき、コストが低廉化する。
請求項（抜粋）：
円板と、前記円板を回転させる駆動部と、前記円板上に配置された磁気ヘッドと、前記円板の回転に伴った前記円板に対する前記磁気ヘッドの浮上量を測定するための浮上量測定手段とを具備する磁気ヘッド浮上量測定装置であって、前記浮上量測定手段が、第一の基準位置から磁気ヘッドまでの距離を測定する第一の距離測定手段と、第二の基準位置から前記円板までの距離を測定する第二の距離測定手段とを具備し、前記両距離から前記浮上量を求めることを特徴とする磁気ヘッド浮上量測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/14
, G11B 11/10
, G11B 21/21
