特許
J-GLOBAL ID：200903017316300370
外観検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大垣 孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-168358
公開番号（公開出願番号）：特開2007-333664
出願日： 2006年06月19日
公開日（公表日）： 2007年12月27日
要約：
【課題】プリント配線基板の変形や搬送速度変動に起因する検査の誤りが無い外観検査装置を提供する。【解決手段】画像取得部110は、移動ステージ201上を移動するプリント配線基板202の撮像データD1を取得する。変形解析部130は、撮像データD1の変形状態を解析する。データ変換部140は、CADデータ格納部120から読み出したCADデータを、撮像データD1と同じ変形状態の画像データに変換し、基準画像データD2として出力する。検査部150は、撮像データD1と基準画像データD2とを用いて、プリント配線基板202の外観検査を行う。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
検査対象物の撮像データを取得する画像取得部と、
前記撮像データの変形状態を解析する変形解析部と、
前記変形状態が前記撮像データと一致する基準画像データを取得するデータ変換部と、
前記撮像データと前記基準画像データとを用いて前記検査対象物の外観検査を行う検査部と、
を備えることを特徴とする外観検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (13件)：
2G051AA65
, 2G051AB02
, 2G051AB04
, 2G051AB14
, 2G051DA05
, 2G051DA08
, 2G051EA08
, 2G051EA17
, 2G051EA23
, 2G051EB01
, 2G051EB09
, 2G051EC02
, 2G051ED15
