特許

J-GLOBAL ID：200903017319411033

回転精度測定装置

発明者： 脇田 恭之
出願人/特許権者： 光洋精工株式会社
代理人 (1件)： 島田 明宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-036777
公開番号（公開出願番号）：特開2003-240536
出願日： 2002年02月14日
公開日（公表日）： 2003年08月27日
要約：

【要約】【課題】 正確な回転精度測定のために回転体の変位データを正確に回転周期毎に分離する。【解決手段】 回転体の変位を示す検出信号Sdに対してA/D変換およびDCカット処理を施すことにより、回転体の変位データとして採取データDaを生成し、この採取データDaに対して周期分離処理を行う。即ち、採取データDaにおける各標本化値に対する移動平均からなる時系列データを平滑化変位データとして生成し(S10)、次に、この平滑化変位データの表す信号波形における立上りゼロ点を検出し(S12)、その立上りゼロ点によって採取データDaを回転周期毎に分離してブロック化する(S14)。これにより得られたブロック化データに対し、レート変換を施して各データブロックのデータ数を同一とし、その後、窓関数を使用せずにFFTを施すことによりスペクトルデータを算出し、このスペクトルデータからNRRO等を求める。

請求項（抜粋）：

所定軸を中心として回転する回転体の回転精度を測定する回転精度測定装置であって、前記回転体の半径方向の変位または前記所定軸方向の変位を示す信号の標本化値からなる時系列データを変位データとして取得するデータ取得手段と、前記変位データを構成する各標本化値に対する移動平均を算出し、当該移動平均からなる時系列データである平滑化変位データを生成する移動平均手段と、前記平滑化変位データの表す信号波形におけるゼロ点に基づき、前記データ取得手段によって取得された変位データを前記回転体の回転周期毎に分離してブロック化するブロック化手段と、前記ブロック化手段によってブロック化された変位データに基づき、前記回転精度を示す指標を算出する算出手段とを備えることを特徴とする回転精度測定装置。

IPC (2件)：

G01B 21/12 ,  G01B 21/30 101

FI (2件)：

G01B 21/12 ,  G01B 21/30 101 Z

Fターム (16件)：

2F069AA21 ,  2F069AA39 ,  2F069AA56 ,  2F069CC05 ,  2F069CC07 ,  2F069DD19 ,  2F069GG04 ,  2F069GG11 ,  2F069GG39 ,  2F069GG52 ,  2F069HH09 ,  2F069JJ17 ,  2F069JJ25 ,  2F069NN08 ,  2F069NN09 ,  2F069NN26

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特開平1-191065
  

審査官引用 (1件)

• 特開平1-191065