特許

J-GLOBAL ID：200903017354795057

距離測定装置

発明者： 丸山 淳一
出願人/特許権者： 日本精機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-215195
公開番号（公開出願番号）：特開平9-042956
出願日： 1995年07月31日
公開日（公表日）： 1997年02月14日
要約：

【要約】【課題】 遠距離及び近距離に位置する車両等の障害物を良好に補足して距離を測定することのできる距離測定装置を提供する。【解決手段】 格子状に設定された複数の測距ポイントP11〜P11(Pmn)に対応して配置された一対のセンサで得られる画像信号から位相差を算出して測距ポイントPmnの測定距離からなる距離分布を求め、前記距離分布から測距ポイントPmnの相関関係を求め、前記相関関係を用いて測距ポイントPmnの少なくとも3個で画定される二次元領域からなる検出エリヤの判定値を算出し、前記判定値が設定値よりも小さいときにその前記検出エリヤに車両20a,車両20b等の障害物が存在することを判定し、前記検出エリヤを画定する測距ポイントPmnの前記距離分布を用いて前記障害物までの距離を求め、測距ポイントPmnは、垂直方向に隣接する他の測距ポイントPmnとの上下間隔が、上側で狭く、下側で広くなっている。

請求項（抜粋）：

格子状に設定された複数の測距ポイントに対応して配置された一対のセンサで得られる画像信号から位相差を算出して前記測距ポイントの測定距離からなる距離分布を求め、前記距離分布から前記測距ポイントの相関関係を求め、前記相関関係を用いて前記測距ポイントの少なくとも3個で画定される二次元領域からなる検出エリヤの判定値を算出し、前記判定値が設定値よりも小さいときにその前記検出エリヤに障害物が存在することを判定し、前記検出エリヤを画定する前記測距ポイントの前記距離分布を用いて前記障害物までの距離を求め、前記測距ポイントは、垂直方向に隣接する他の測距ポイントとの上下間隔が異なっていることを特徴とする距離測定装置。