特許

J-GLOBAL ID：200903017414378043

質量分析装置

発明者： 鍋島 貴之 ,  坂入 実 ,  高田 安章 ,  平林 由紀子 ,  小泉 英明
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-020922
公開番号（公開出願番号）：特開平9-210964
出願日： 1996年02月07日
公開日（公表日）： 1997年08月15日
要約：

【要約】【課題】セミミクロ液体クロマトグラフ/質量分析装置のインターフェイスとして大気圧化学イオン化法を用いた最適なイオン源を提供する。【解決手段】大気圧化学イオン化法を用いたイオン源において,液体クロマトグラフ殻の流路の終端から気化部までの空間を閉塞し,その空間にイオン源外部よりガスが流入してくることを防ぐ。さらに霧化手段と気化手段を共通な加熱部位によって行う。【効果】試料の希釈を妨げ,低流速な液体クロマトグラフ/質量分析装置においても高感度な検出を可能にする。

請求項（抜粋）：

試料を含む溶液を供給する手段と,試料を含む溶液を溶出するキャピラリーと,該キャピラリーから溶出する試料を含む溶液をイオン化するイオン化手段と,イオン化された試料を質量分析する分析手段を有する装置であって,イオン化手段に大気圧化学イオン化法を用いる質量分析装置において,該キャピラリーから溶出される試料を含む溶液を霧化する手段と,生成した液滴を微細化あるいは気化する手段との間が閉塞されていて,外部からガスが混入しない構造のイオン源を有することを特徴とした質量分析装置。