試験片較正コードを記憶している一定のメモリーを有する診断キットおよび関連の方法

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：田澤博昭 , 加藤公延 , 田澤英昭 , 濱田初音
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-296598
公開番号（公開出願番号）：特開2004-132964
出願日： 2003年08月20日
公開日（公表日）： 2004年04月30日
要約：

【課題】一定の流体サンプルの特性を測定するための一定の診断キットを提供する。【解決手段】一定の流体サンプルの特性を測定するための一定の診断キットが一定の試験片および当該試験片の一定の特性を測定するための装置を備えている。上記装置はまた、上記試験片の測定された特性に基づいて、当該試験片に供給される一定のサンプルの一定の特性も計算する。この装置における一定のメモリー内に保管されるものとして、複数の試験片較正コードがあり、これらのコードは一定の多次元的な較正パラメーターの区域における複数の幾何学的領域を示す。これらの試験片較正コードおよび幾何学的領域は、上記試験片に対する当該試験片較正コードの内の1個の割り当てにおける一定の量子化エラーが最適に減少されるように、上記多次元的な較正パラメーターの区域にわたり分布される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

一定の流体サンプルの特性を測定するための診断キットにおいて、一定の試験片、および前記試験片の少なくとも1種類の特性を測定して、その特性から、当該試験片に供給される一定の流体サンプルの特性を計算するための一定の装置を備えており、当該装置が複数の試験片較正コードを内部に保管している一定のメモリーを有しており、前記試験片較正コードのそれぞれが一定の較正パラメーターの区域における一定の幾何学的領域を示し、この場合に、これらの試験片較正コードおよび幾何学的領域が、前記試験片に対する前記試験片較正コードの内の1個の割り当てにおける一定の量子化エラーが最適に減少されるように、前記較正パラメーターの区域にわたり分布される診断キット。

IPC (1件)：

G01N33/48

FI (1件)：

G01N33/48 Z

Fターム (3件)：

2G045HA01 , 2G045HA06 , 2G045JA07

引用特許：

出願人引用 (8件)

米国特許第6,084,660号明細書
米国特許第6,261,519号明細書
米国特許出願第10/100,531号明細書

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