特許
J-GLOBAL ID：200903017461265150
広帯域マイクロ波本来位置テスト装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
川口 義雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-256991
公開番号（公開出願番号）：特開平7-191058
出願日： 1992年09月25日
公開日（公表日）： 1995年07月28日
要約：
【要約】【目的】 マイクロ波周波数テストを行うための装置を提供する。【構成】 本発明の装置は、同一平面マイクロ波ラインによって出力コネクターに接続されたエッチングによって形成されたセンサーを組み込む金属処理された上側を備えた可撓性プラスチック材料の薄板からなる。前記薄板の前記センサーの反対側は、使用中、テスト対象の回路のマイクロ波ラインの上に押しあてられ、その間、テスト装置の残りの部分はエルボー形の曲げを備えることによってテスト対象の回路から充分な距離を保たれ、前記薄板の厚みは、前記センサーと、一部を抽出するために前記ラインによって放射された電磁波との間の充分な結合を確保するように、選択される。
請求項（抜粋）：
電磁波を放射する少なくとも第一のマイクロ波伝送ラインを有するマイクロ波周波数回路に、広帯域マイクロ波周波数テストを行う装置であって、上側と下側を有し、前記第一マイクロ波ラインの上に位置するよう構成され、可撓性誘電材料からなる担体であり、当該装置からの外部マイクロ波周波数連結をなす手段を備えた担体と、前記担体に装着されており、前記担体の上側に、前記電磁波とのマイクロ波周波数結合により信号抽出を行うセンサーと、前記センサーを前記外部連結手段と連結するための第二のマイクロ波伝送ラインを有するマイクロ波信号結合手段と、前記担体を前記センサーと反対側の前記下側の部分によって前記第一マイクロ波周波数ラインの上に押し当てる手段とからなり、前記担体の厚みは前記信号抽出を結合によって得られるように決定されることを特徴とする広帯域マイクロ波周波数テスト装置。
IPC (5件)：
G01R 1/067
, G01R 1/06
, G01R 29/08
, G01R 29/10
, G01R 31/28
