特許
J-GLOBAL ID：200903017538475527
プリント基板の検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
宮田 信道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-147931
公開番号（公開出願番号）：特開平10-332766
出願日： 1997年06月05日
公開日（公表日）： 1998年12月18日
要約：
【要約】【課題】 抵抗値や容量の測定において正確さやスピードを更に高め得るプリント基板の検査装置の提供。【解決手段】 入力プローブを介して被測定ライン1へ測定信号を供給すべく複数の信号発生回路4を具備する信号発生部5と、信号発生部5から適当な信号発生回路を選択する信号セレクタ6と、検出プローブ2からの電位差を検出する測定部7と、該測定部7で検出した電位差から被測定ライン1の抵抗値等を導出する演算部8と、入力プローブの接触子の1又は複数を信号発生部5及び測定部7へ接続する入力切替回路9と、検出プローブ2の接触子の1を前記信号発生部5及び測定部7へ接続する出力切替回路10と、信号セレクタ6、入力切替回路9及び出力切替回路10を制御する制御部11を具備し、信号セレクタ6に、未使用の定電流源をダミー抵抗素子36を介して接地するウオーミングアップ手段を設けたプリント基板の検査装置。
請求項（抜粋）：
プリント基板に配設された回路パターンを含む複数の被測定ライン(1)各々の両端に接続される入力プローブ及び検出プローブ(2)と、両プローブで得られた被測定ライン(1)の両端の電位差より該被測定ライン(1)中の抵抗値又は容量値を測定する検査装置本体(3)とで構成され、前記検査装置本体(3)は、前記被測定ライン(1)の一端より種々の測定信号を供給すべく定電流源を含む複数の信号発生回路(4)を具備する信号発生部(5)と、前記複数の信号発生回路(4)から測定に適した1の信号発生回路を選択する信号セレクタ(6)と、前記プローブで引き込んだ電位差を検出する測定部(7)と、該測定部(7)で検出した電位差から前記被測定ライン(1)中に存在する抵抗値又は容量値を導出する演算部(8)と、前記入力プローブが具備する複数の接触子の中から1つ又は複数の接触子を信号発生部(5)における1の信号発生回路及び測定部(7)へ接続する入力切替回路(9)と、前記検出プローブ(2)が具備する複数の接触子の中から一つの接触子を前記信号発生部(5)における1の信号発生回路及び測定部(7)へ接続する出力切替回路(10)と、前記信号セレクタ(6)、入力切替回路(9)及び出力切替回路(10)を制御する制御部(11)を具備し、前記信号セレクタ(6)に、前記信号発生部(5)が具備する定電流源のうちの未使用の定電流源をダミー抵抗素子(36)を介して接地するウオーミングアップ手段を設けたプリント基板の検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 31/02
, G01R 31/28 H
