特許
J-GLOBAL ID：200903017556812140
表面欠陥探傷装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
本庄 武男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-169213
公開番号（公開出願番号）：特開平10-019801
出願日： 1996年06月28日
公開日（公表日）： 1998年01月23日
要約：
【要約】【課題】例えば鋼材表面等にある欠陥を自動的に探傷するための従来の自動探傷装置では,撮像画像に含まれる表面欠陥と同じレベルの輝度を有するノイズ源による誤判定を防止するために表面欠陥の形状等の特徴量を予め教示する必要があり,作業量の増大を招いていた。【解決手段】本発明は,複数の空間フィルタを被試験材の撮像画像に施すことにより表面欠陥と上記ノイズ源の形状の違いを撮像画像の輝度値に反映して,従来より精度のよい探傷を行うことのできる表面欠陥探傷装置を提供することを図ったものである。
請求項（抜粋）：
物品の撮像画像に基づいて該物品の表面欠陥を探傷する表面欠陥探傷装置において,上記撮像画像の所定の輝度値以上の領域を抽出する領域抽出手段と,上記領域抽出手段により抽出された抽出領域に,検出しようとする表面欠陥の形状に対応するn種(nは自然数)の空間フィルタを施し,該空間フィルタにより表面欠陥の形状に関連付けられたn個の画像を生成する画像フィルタリング手段と,上記画像フィルタリング手段により得られたn個の画像に含まれる画素のうちで最高輝度値を有する画素の座標を検出する座標検出手段と,n個の画像各々の上記最高輝度値を有する画素の座標の輝度値に基づいて上記抽出領域に表面欠陥が含まれるか否かを判定する判定手段とを具備してなることを特徴とする表面欠陥探傷装置。
IPC (3件)：
G01N 21/91
, G01N 27/84
, G06T 7/00
G01N 21/91 B
, G01N 27/84
, G06F 15/62 400
