特許

J-GLOBAL ID：200903017631128527

透過光蛍光両用分光測定装置

発明者： 新屋 和也
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 縣 浩介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-267139
公開番号（公開出願番号）：特開平5-072118
出願日： 1991年09月17日
公開日（公表日）： 1993年03月23日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 透過吸収用の光検出器を移動して、透過吸収と透過蛍光の両方を測定できる高精度の分光測定装置を提供することを目的とする。【構成】 透過光蛍光両用分光測定装置において、試料の微小領域を細い光ビームで照射し、試料の光透過側で受光する構成で、光検出器1をどこに移動させても、光検出器1の受光面が試料点に対して常時垂直に向くように光検出器1を傾斜させる手段を設け、透過吸収測定時には、光検出器1を受光面の中心が試料点の真下になるように移動し、透過蛍光測定時には、光検出器1を予め設定された位置(透過光が光検出器の受光面に入射しない位置)に移動するようにした。

請求項（抜粋）：

試料の微小領域を細い光ビームで照射し、試料の光透過側で受光する構成で、光検出器を移動する手段と、光検出器の受光面を試料点に対して常時垂直に向くように光検出器を駆動保持する手段を設けことを特徴とする透過光蛍光両用分光測定装置。

IPC (3件)：

G01N 21/01 ,  G01N 21/31 ,  G01N 21/64