特許
J-GLOBAL ID:200903017638188509

C/N測定方法および測定回路

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 砂子 信夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-029071
公開番号(公開出願番号):特開平11-215202
出願日: 1998年01月28日
公開日(公表日): 1999年08月06日
要約:
【要約】【課題】 C/Nが細かいステップで測定ができ、かつ回路規模も小さくてすむC/N測定方法および測定回路を提供する。【解決手段】 復調ベースバンド信号から該復調ベースバンド信号に基づくベクトル長をベクトル長算出器1にて求め、算出したベクトル長をベクトル長比較器2によって予め定めた長さと比較して、予め定めた長さ以下のものをカウンタ3にて予め定めた所定期間にわたって計数し、計数値に対応したC/N値を記憶したデータテーブルを備えた検索手段4を参照して、カウンタ3による計数値に対応したC/N値を求める。
請求項(抜粋):
復調ベースバンド信号から該復調ベースバンド信号に基づくベクトル長を求め、該ベクトル長が予め定めた長さ以下のものを予め定めた所定期間計数し、該計数値に応じて、計数値に対応したC/N値を記憶したデータテーブルからC/N値を求めることを特徴とするC/N測定方法。
IPC (3件):
H04L 27/22 ,  G01R 29/26 ,  H04L 27/18
FI (3件):
H04L 27/22 Z ,  G01R 29/26 B ,  H04L 27/18 A
引用特許:
審査官引用 (1件)

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