特許
J-GLOBAL ID：200903017699757689
LCRテスタ
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大原 拓也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-282387
公開番号（公開出願番号）：特開平6-109783
出願日： 1992年09月28日
公開日（公表日）： 1994年04月22日
要約：
【要約】【目的】 LCRテスタにて試料の特性を測定する際、基礎データとして必要な電圧、電流の0 ゚成分と90 ゚成分を簡単な回路構成にて得ること。【構成】 試料に加わった測定用交流電圧と同試料に流れる電流の各一周期分の波形からそれぞれn点サンプリングして各n個のデータを収集し、その1番からn/2番までの半周期分のデータにおのおの定数1を乗じて積算した値から平均値を算出して上記電圧、電流の0 ゚成分とする。また、n/4+1番から3n/4番までの半周期分のデータ、もしくは1番からn/4番までと3n/4+1番からn番までとの半周期分データにおのおの定数1を乗じて積算し、その平均値を算出して上記電圧、電流の90 ゚成分とする。
請求項（抜粋）：
試料に測定用の正弦波交流電圧vを加えて同試料の両端間における電圧Vvを検出するとともに、同試料に流れる交流電流iを交流電圧Viに変換して検出し、該検出した電圧Vvと電流を意味する電圧Viから各々の0 ゚成分VvcとVicおよび90 ゚成分VvsとVisとを求めて上記試料の特性を算出するLCRテスタにおいて、基準クロック信号を発生する基準クロック発生器と、同基準クロック信号を受けて測定用の上記正弦波交流電圧vを発生する正弦波発生回路と、上記試料より検出される上記電圧Vvおよび上記電圧Viをそれぞれディジタル変換する第1および第2のA/Dコンバータと、同第1および第2のA/Dコンバータからのデータに基づいて上記試料の諸特性を算出する演算処理手段(CPU)と、上記基準クロック信号を分周し、その分周信号を上記各A/Dコンバータにサンプリング信号として供給する分周器とを備え、上記基準クロック信号の周波数をf、上記正弦波交流電圧vの周波数をFおよび上記分周器の分周率を1/sとすると、f/sFの値が正の整数となるようにして、上記2つのA/Dコンバータを同時にサンプリングさせるようにしたことを特徴とするLCRテスタ。
引用特許：
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