特許
J-GLOBAL ID：200903017703571633
半導体理論集積回路
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡辺 喜平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-351926
公開番号（公開出願番号）：特開平5-167020
出願日： 1991年12月13日
公開日（公表日）： 1993年07月02日
要約：
【要約】【目的】 故障診断のための検査を簡略化する。【構成】 一つの半導体チップ内に回路部入力端子Aと回路部出力端子Bとを有し、前記入力端子に所定の信号が入力したときに、前記出力端子に所定の信号を出力する機能回路部3と、前記機能回路部の動作の良否を検査するために必要な信号を出力するとともに、機能回路部からの出力信号を読み取って蓄積されている正しい信号と比較する判断回路6と、前記判断回路からの信号にもとづいて入力端子部からの信号か、判断回路部からの信号かのいずれか一方を選択する入力切換回路部2と、前記判断回路からの信号にもとづいて前記機能回路部の出力信号を判断回路部又は切換回路のどちらか一方を選択して接続する出力切換回路部4と、前記判断回路部からの信号にもとづいて出力端子部への出力信号を全てハイインピーダンス状態にする切換回路部5とを備えた。
請求項（抜粋）：
一つの半導体チップ内に回路部入力端子と回路部出力端子とを有し、前記入力端子に所定の信号が入力したときに、所定の動作を行って、前記出力端子に所定の信号を出力する機能回路部と、前記機能回路部の動作の良否を検査するために必要な信号を出力するとともに、機能回路部からの出力信号を読み取って蓄積されている正しい信号とを比較する判断回路と、前記入力端子部と前記機能回路部との間に設けられ、前記判断回路からの信号にもとづいて入力端子部からの信号か、判断回路部からの信号かのいずれか一方を選択する入力切換回路部と、前記機能回路部の後段に位置し、前記判断回路からの信号にもとづいて前記機能回路部の出力信号を判断回路部又は切換回路のどちらか一方を選択して接続する出力切換回路部と、前記出力切換回路部と出力端子部との間に位置し、前記判断回路部からの信号にもとづいて出力端子部への出力信号を全てハイインピーダンス状態にする切換回路部とを備えたことを特徴とする半導体理論集積回路。
IPC (3件)：
H01L 27/04
, G01R 31/28
, H03K 19/00
