特許

J-GLOBAL ID：200903017715323996

オートチューニング機能付きPID調節計

発明者： 武口 美之
出願人/特許権者： 株式会社安川電機
代理人 (1件)： 萩野 平 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-326282
公開番号（公開出願番号）：特開平11-161301
出願日： 1997年11月27日
公開日（公表日）： 1999年06月18日
要約：

【要約】【課題】 実際の操業に適した的確なパラメータを自動的に調整すること。【解決手段】 比例ゲイン調整時には微小ステップ信号( △MV) を生成し、これを制御対象プロセスに出力する操作量に加える。そして、この時発生するオフセット量を検出して除去し、微小ステップ信号による目標値(SV)と制御量(PV)との偏差量(en)からオフセット量を除去した偏差量e0が整定するまでの偏差量を符号別に積算し、符号別に積算した符号別偏差量の面積から制御量の応答状態を判定し、設定された応答目標値に近づくように比例ゲインを調整する。一方、積分時定数(T1)調整には、微小ステップ信号( △SV) を生成して目標値(SV)に加え、制御量の整定状態を検出するまで目標量と制御量の偏差量(e)を符号別に積算し、符号別偏差量の面積から制御量の応答状態を判定し、設定された応答目標値に近づくように積分時定数を調整する。

請求項（抜粋）：

プロセスのフィードバック制御に用いられる比例先行型のPID調節計の少なくとも比例ゲインを最適に自動調整するオートチューニング機能付きPID調節計であって、比例ゲイン調整用の微小ステップ信号を生成し、これを制御対象プロセスに出力する操作量に加える微小ステップ信号生成手段と、前記微小ステップ信号生成手段による比例ゲインの調整時に発生するオフセット量を検出するオフセット量検出手段と、比例ゲインの調整において支障となる前記オフセット量を演算上除去するオフセット除去手段と、前記微小ステップ信号による目標値と制御量との偏差量から前記オフセット量を演算上除去した偏差量が整定するまでの偏差量を符号別に積算する偏差量積算手段と、前記偏差量積算手段にて前記符号別に積算された符号別偏差量の面積から制御量の応答状態を判定する応答状態判定手段と、制御量が任意の応答になるように応答目標値を設定する応答目標値設定手段と、前記応答目標値設定手段にて設定された応答目標値に近づくように比例ゲインを調整する比例ゲイン調整手段と、を備えたことを特徴とするオートチューニング機能付きPID調節計。