特許
J-GLOBAL ID：200903017716986638
3次元位置・姿勢計測装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 富士弥
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-143980
公開番号（公開出願番号）：特開平9-325007
出願日： 1996年06月06日
公開日（公表日）： 1997年12月16日
要約：
【要約】【課題】 磁界や室温などの影響を受けずに安定して、しかも非常に安価に3次元計測を行うことができる3次元位置・姿勢計測装置を提供する。【解決手段】 入力装置として投影面Bの中心点Cで直交する直線上の等距離の位置に4個のフォトダイオードDを配置した受光センサ1、および既存のディスプレイ装置等を用いることにより、安価に、かつ設置スペースをあまり必要としない装置とする。また、受光センサ1の3次元位置および姿勢は、受光センサ1による2つの線分の4端点の観測情報を用い、この4端点に対応するディスプレイ装置の表示面F上の対応点を求めて、幾何学計算で導出することで計測する。このような光学的特徴を利用することにより、環境変動の影響を受けない、3次元位置および姿勢の計測を可能にする。
請求項（抜粋）：
ディスプレイ装置に対する受光センサの3次元位置と姿勢を計測する3次元位置・姿勢計測装置であって、前記受光センサ内の投影面上に4個の受光素子を設置し、一定周期で走査する前記ディスプレイ装置表示面上のビームが前記各受光素子を通過する時刻に基づき、前記各受光素子に対応した該通過する時のビームのディスプレイ装置表示面上の2次元座標値を求める手段と、該2次元座標値に基づき前記受光センサの前記ディスプレイ装置表示面を基準とした3次元位置と姿勢を求める手段と、を有する、ことを特徴とする3次元位置・姿勢計測装置。
IPC (3件)：
G01B 11/00
, G01B 11/26
, G06T 7/00
G01B 11/00 A
, G01B 11/26 Z
, G06F 15/62 415
