特許
J-GLOBAL ID：200903017747939700
グラフ情報によるプリント基板の欠陥検出及び種別認識方式
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
熊谷 雄太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-131321
公開番号（公開出願番号）：特開平5-223877
出願日： 1991年06月03日
公開日（公表日）： 1993年09月03日
要約：
【要約】【目的】 小容量のメモリを使用して位置合わせ誤差もなく、的確にして迅速にプリント基板の欠陥を検出すると共に種別を認識する。【構成】 正常な標準とするプリント基板の導体及び背景から得られる外部・内部輪郭線及び骨格線から、各節点と各辺を各々標準節点、標準辺とする標準グラフを作成し、被検査プリント基板の導体及び背景から得られる骨格線から被検査グラフを作成し、両者を比較し、各節点と各辺を正常節点、欠陥隣接節点、欠陥候補節点、欠陥節点、正常辺、準正常辺、欠陥候補辺に分類する。そして、各節点に接続される各辺の種類と数から各節点の次数を計算し、その次数によって欠陥の検出と断線、短絡、突起、くわれ、ピンホール、残銅などの欠陥の種類を判別する。
請求項（抜粋）：
正常な標準とするプリント基板の導体及び背景から得られる外部・内部輪郭線及び骨格線から各節点と各辺を各々標準節点、標準辺とする標準グラフを作成し、被検査プリント基板の導体及び背景から得られる骨格線から被検査グラフを作成し、該被検査グラフと前記標準グラフとを比較し、各節点と各辺を正常節点、欠陥隣接節点、欠陥候補節点、欠陥節点、正常辺、準正常辺、欠陥候補辺に分類し、次いで各節点に接続される各辺の種類と数から各節点の次数を計算し、その次数によって欠陥の検出と断線、短絡、突起、くわれ、ピンホール、残銅などの欠陥の種類を判断することを特徴としたグラフ情報によるプリント基板の欠陥検出及び種別認識方式。
IPC (2件)：
前のページに戻る
