特許

J-GLOBAL ID：200903017793321002

ATM交換機及びその試験方法

発明者： 江口 信彦 ,  工藤 裕之 ,  園田 和雄 ,  相原 直樹
出願人/特許権者： 富士通株式会社 ,  富士通九州通信システム株式会社
代理人 (1件)： 斉藤 千幹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-177822
公開番号（公開出願番号）：特開平7-038565
出願日： 1993年07月19日
公開日（公表日）： 1995年02月07日
要約：

【要約】【目的】 ACT系、SBY系の試験セル、ユーザセルの流れを同一に維持しながら両系のATMスイッチ、局内ユニットの導通試験を行う。【構成】 イン方向のATMスイッチ2111,2121の試験を行うものとすると、試験装置31より運用系及び予備系の両方に試験セルを送出する。アウト方向のATMスイッチ2112,2122はそれぞれ試験セルを折り返し部41にルーチングする。折り返し部41は入力された試験セルをそれぞれ折り返し、試験対象であるイン方向のATMスイッチ2111,2121を通過させ、折り返し部51に入力する。折り返し部51は入力された試験セルを折り返し、アウト方向のATMスイッチ2112,2122を介して試験装置31に入力する。試験装置31は送出した試験セルに含まれるデータと運用系あるいは予備系より受信した試験セルに含まれるデータを比較して運用系、予備系のATMスイッチの導通試験を行う。

請求項（抜粋）：

運用系及び予備系の二重化構成を備えたATM交換機の試験方法において、試験装置より運用系及び予備系の両方に試験セルを送出し、該試験セルを折り返しにより運用系及び予備系のATMスイッチを通過させ、両系のATMスイッチを通過した試験セルを試験装置に戻し、送出した試験セルに含まれるデータと運用系あるいは予備系より受信した試験セルに含まれるデータを比較して運用系及び予備系のATMスイッチの試験を行うことを特徴とするATM交換機の試験方法。

IPC (4件)：

H04L 12/28 ,  H04L 12/26 ,  H04Q 3/00 ,  H04Q 11/04

FI (4件)：

H04L 11/20 D ,  H04L 11/12 ,  H04L 11/20 C ,  H04Q 11/04 M

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭63-296537
  
• 特開平3-266547
  
• 特開平4-124936