特許

J-GLOBAL ID：200903017810417809

寸法測定装置

発明者： 岡田 道俊 ,  吉田 富省 ,  米田 聡 ,  滝政 宏章
出願人/特許権者： オムロン株式会社
代理人 (1件)： 中村 茂信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-052799
公開番号（公開出願番号）：特開平8-247723
出願日： 1995年03月13日
公開日（公表日）： 1996年09月27日
要約：

【要約】【目的】 測定距離に依らずに被測定物の寸法を高精度に測定できる寸法測定装置を提供することである。【構成】 平行光を被測定物4に照射する投光部1と、投光部1からの平行光を受光するCCDイメージセンサ5(受光部)と、CCD5の出力信号を平滑化するローパスフィルタ6と、平滑化された信号を所定の閾値で2値化する2値化部7とを備え、2値化部7は、ローパスフィルタ6によって平滑化された信号を、測定距離Lに応じて閾値テーブル11から与えられる閾値により2値化する。

請求項（抜粋）：

平行光を被測定物に照射する投光部と、この投光部からの平行光をCCDイメージセンサで受光する受光部と、この受光部の出力信号を平滑化するローパスフィルタと、平滑化された信号を所定の閾値で2値化する2値化部とを備え、2値化信号から前記被測定物の寸法を測定する寸法測定装置において、前記2値化部は、前記ローパスフィルタによって平滑化された信号を、前記被測定物と受光部との間の測定距離に応じた閾値により2値化することを特徴とする寸法測定装置。

IPC (3件)：

G01B 11/02 ,  G06T 1/00 ,  G06T 5/00

FI (3件)：

G01B 11/02 H ,  G06F 15/64 400 J ,  G06F 15/68 320 Z