特許

J-GLOBAL ID：200903017838160188

分光光度計

発明者： 藤井 稔子 ,  宮原 裕二 ,  渡辺 ▲吉▼雄
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-301523
公開番号（公開出願番号）：特開平5-142142
出願日： 1991年11月18日
公開日（公表日）： 1993年06月08日
要約：

【要約】【目的】吸水性高分子膜をATRプリズム上に密着させることにより、試料成分によるATRプリズム表面への汚染を防ぐ。【構成】ATRプリズム21上に高分子膜22を密着させ、高分子22上に試料23を導入する。【効果】上記構成により、試料のATRプリズムへの浸透を高分子膜がブロックし、かつスペクトルを測定することができ、試料によるATRプリズムの表面汚染を防ぐことができる。

請求項（抜粋）：

水を媒体とする液体を減衰全反射法によって分析する装置において、吸水性能を持つ高分子膜を表面に設けた減衰全反射プリズムを光学セルに持つことを特徴とする分光光度計。