特許

J-GLOBAL ID：200903017839938212

検査支援システム

発明者： 古川 浩保 ,  前田 明宏 ,  武内 景治
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 宮田 金雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-262834
公開番号（公開出願番号）：特開2002-071339
出願日： 2000年08月31日
公開日（公表日）： 2002年03月08日
要約：

【要約】【課題】 ディスプレイ装置に表示した設計図上だけで測定値入力作業を行うことができ、表示を切り替えることなく簡単な操作で入力作業を行うことができる検査支援システムを提供する。【解決手段】 設計図を基に製造された製品における設計寸法が付与されている部分の寸法を測定し、設計寸法値に対する測定値を記録する検査作業を、コンピュータにより支援するシステムであって、設計図を表示するディスプレイ装置5と、ディスプレイ装置に表示された設計図上で任意の寸法測定位置を選択することでその寸法測定位置に対する測定値が入力可能となる測定値格納部を作成する測定値格納部作成手段2と、前記選択した寸法測定位置の測定値を測定値格納部に入力するための入力手段6とを備えた。

請求項（抜粋）：

設計図を基に製造された製品における設計寸法が付与されている部分の寸法を測定し、設計寸法値に対する測定値を記録する検査作業を、コンピュータにより支援するシステムであって、前記設計図を表示するディスプレイ装置と、前記ディスプレイ装置に表示された設計図上で任意の寸法測定位置を選択することでその寸法測定位置に対する測定値が入力可能となる測定値格納部を作成する測定値格納部作成手段と、前記選択した寸法測定位置の測定値を前記測定値格納部に入力するための入力手段とを備えたことを特徴とする検査支援システム。

IPC (2件)：

G01B 21/00 ,  G06F 17/50 608

FI (2件)：

G01B 21/00 Z ,  G06F 17/50 608 A

Fターム (11件)：

2F069AA03 ,  2F069AA31 ,  2F069GG72 ,  2F069QQ03 ,  2F069QQ05 ,  2F069QQ07 ,  5B046CA04 ,  5B046DA02 ,  5B046GA01 ,  5B046HA03 ,  5B046JA02