特許
J-GLOBAL ID：200903017866553454
原料中の夾雑物検出装置およびその検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長門 侃二
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2000003669
公開番号（公開出願番号）：WO2000-074504
出願日： 2000年06月06日
公開日（公表日）： 2000年12月14日
要約：
【要約】原料中の夾雑物を検出する装置および方法は、コンベア(2)上の原料(T)に向けて赤外線または赤外線の複数の特定波長成分を照射し、原料(T)から反射された特定波長成分の反射強度を測定し、測定された反射強度と原料(T)に固有の特定波長成分の反射強度とを比較し、この比較結果に基づき、原料(T)の夾雑物を検出する。
請求項（抜粋）：
原料中の夾雑物を検出する検出装置であって、前記検出装置は、 コンベア上を移送される原料に向けて検査光を照射する照射機器と、 前記原料から反射された検査光を受け取る受光機器であって、前記原料と前記夾雑物との間にてその反射強度に差が生じる前記検査光の複数の特定波長成分に関し、これら特定波長成分の反射強度を出力する、受光機器と、 前記原料に固有の前記特定波長成分の反射強度と前記受光機器から出力された前記反射強度とを比較し、この比較結果に基づき、前記原料中の夾雑物を検出する判定回路とを備える。
IPC (1件)：
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