特許
J-GLOBAL ID：200903017867557097
粒子分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-011286
公開番号（公開出願番号）：特開平8-201267
出願日： 1995年01月27日
公開日（公表日）： 1996年08月09日
要約：
【要約】【目的】粒子の画像と濃度を分析する装置で、サンプル液とシース液の流量を上げても、分析中にサンプリング機構を稼働しても鮮明な画像を得られ、効率良くサンプルを分析できるようにする。【構成】サンプル液50とシース液51を供給するチューブ40,41の共振周波数が撮像の繰り返し周波数よりも高くなるように固定具60で固定する。また、両チューブの径路に圧力変動吸収部42,52を設ける。そして、圧力変動吸収部により両チューブの遅れ時間を揃える。フローセル11に平坦なシースフローを形成して流し、撮像器30で撮像し、粒子の形態と濃度を分析する。【効果】固定具、圧力変動吸収部により流量を上げること、鮮明な画像を得ることができ、遅れ時間を揃えたことで分析開始までの時間が短縮できる。
請求項（抜粋）：
被検粒子を含むサンプル液と清浄なシース液とでシースフローを成すフローセルと、該フローセルに前記サンプル液を供給するサンプル液供給機構と、前記フローセルに前記シース液を供給するシース液供給機構と、前記被検粒子の画像を繰り返し撮像する撮像機構と、前記画像を解析して結果を出力するデータ解析機構とを備える粒子分析装置において、前記サンプル液供給機構から前記フローセルまでの径路及び前記シース液供給機構から前記フローセルまでの径路に径路を構成するチューブを固定する固定装置を設け、前記チューブの共振周波数が前記撮像機構の繰り返し周波数よりも高く設定したことを特徴とする粒子分析装置。
引用特許：
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