特許

J-GLOBAL ID：200903017973046050

霧粒子センサ及び霧センサ

発明者： 奥村 聡
出願人/特許権者： 神栄株式会社
代理人 (3件)： 角田 嘉宏 ,  古川 安航 ,  西谷 俊男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-105860
公開番号（公開出願番号）：特開2007-278858
出願日： 2006年04月07日
公開日（公表日）： 2007年10月25日
要約：

【課題】霧粒子濃度が低くても検知でき、霧発生時の早い段階での検知を可能とする霧粒子及び霧センサを提供する。【解決手段】遮光ハウジング1内に、紙面に直角方向の直線偏光を発する半導体レーザー6及び入射光を平行光にするレンズ7を有する発光部10と、入射光軸に対して60度の方向に配置された第1受光部20と第2受光部30と、サンプルエアーを取り込む空気吸引口4と、サンプルエアーを検出域2に供給する吸引ファン5とを設ける。第1の受光部20は、集光用のレンズ8と、散乱光の強度Iを測定するフォトダイオード9とによって構成し、第2の受光部30は、集光用のレンズ13と、入射光に直交する偏光のみを透過させる偏光フィルタ11と、偏光フィルタ11を透過した散乱光の強度ISを測定するためのフォトダイオード12とによって構成し、Iと、I及びISから求めた偏光度とに基づき、浮遊粒子が霧粒子であるか否かの判断を行う。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

大気中に含まれる浮遊粒子の1個づつについて、霧粒子であるか否かの判断を行う霧粒子センサであって、 検出域を有する遮光ハウジングと、 該遮光ハウジングの該検出域にサンプルエアーを供給するサンプルエアー供給手段と、 前記検出域に直線偏光を入射光として照射する発光部と、 サンプルエアー中の浮遊粒子による直線偏光の散乱光の強度Iを測定する第1の受光部と、 前記散乱光のうち入射光の偏光方向に直交する偏光方向の散乱光の強度ISを測定する第2の受光部とを備え、 第1及び第2の受光部で検出された散乱光の強度から求めた偏光度に基づいて、浮遊粒子が霧粒子であるか否かの判断を行う霧粒子センサ。

IPC (3件)：

G01N 21/49 ,  G01N 21/21 ,  G01W 1/14

FI (3件)：

G01N21/49 Z ,  G01N21/21 Z ,  G01W1/14 B

Fターム (12件)：

2G059AA05 ,  2G059BB02 ,  2G059CC11 ,  2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK03 ,  2G059MM01 ,  2G059MM05 ,  2G059NN01

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 降雪検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-120430   出願人：積水樹脂株式会社
• 降雪・霧検知器及び降雪・霧検知装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-320458   出願人：積水樹脂株式会社

審査官引用 (5件)

• 花粉センサ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-093140   出願人：神栄株式会社
• 特開平2-085744
  
• 浮遊粒子濃度計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-120285   出願人：富士電機株式会社
• 光学式センサ装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-331155   出願人：オムロン株式会社
• 特開昭62-197747