特許
J-GLOBAL ID:200903017988075170

帯状走行体の表面観察機

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 渡辺 望稔
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-132773
公開番号(公開出願番号):特開2000-322737
出願日: 1999年05月13日
公開日(公表日): 2000年11月24日
要約:
【要約】【課題】一方向に走行する帯状走行体の表面にある欠陥を画像として観察する際、光量不足がなく、しかも画像の走行方向の分解能を高くして、僅かな欠陥、例えば数十μm等の大きさの欠陥を検出できる帯状走行体表面観察機を提供することを課題とする。【解決手段】前記帯状走行体の一方にあって、この帯状走行体に応じて移動する帯状走行体の表面画像を得る画像撮影部と、この画像撮影部によって帯状走行体の表面画像を得る際、帯状走行体の表面の像を、帯状走行体の走行速度より遅い相対速度に変換する相対速度低減手段と、この相対速度低減手段を用いて前記帯状走行体の表面の像を前記画像撮影部によって撮影した画像信号から前記帯状走行体の表面画像を取得する画像取得部とを有する表面観察機を提供することで前記課題を解決する。
請求項(抜粋):
一方向に走行する帯状走行体の一方にあって、前記帯状走行体の表面画像を得る画像撮影部と、前記画像撮影部によって前記帯状走行体の表面画像を得る際、前記帯状走行体の表面の像を、前記帯状走行体の走行速度より遅い相対速度の像に変換する相対速度低減手段と、この相対速度低減手段を用いて変換された前記帯状走行体の表面の像の、前記画像撮影部によって撮影して得られた画像信号から前記帯状走行体の表面画像を取得する画像取得部とを有することを特徴とする帯状走行体の表面観察機。
IPC (2件):
G11B 5/84 ,  G01B 11/30
FI (2件):
G11B 5/84 Z ,  G01B 11/30 A
Fターム (16件):
2F065AA61 ,  2F065BB13 ,  2F065CC02 ,  2F065DD03 ,  2F065DD05 ,  2F065FF04 ,  2F065GG18 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ16 ,  2F065JJ23 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL13 ,  2F065MM03 ,  2F065QQ24 ,  5D112AA22 ,  5D112JJ05

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