電子部品の特性測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：筒井秀隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-285877
公開番号（公開出願番号）：特開平8-122386
出願日： 1994年10月25日
公開日（公表日）： 1996年05月17日
要約：

【要約】【目的】互いに接近した状態の複数の電子部品の個々の電気的特性を正確に測定することができる、シールド性の高い特性測定装置を提供する。【構成】チップ型の電子部品は保持治具の保持穴に弾性的に保持されている。保持治具は金属製プレートに設けた多数の取付穴の内壁に弾性体を取り付け、この弾性体で保持穴の内側壁を構成している。プローブは、電子部品の端子部に弾性的に当接する接触端子と、接触端子の周囲を接触端子と電気的に絶縁した状態で覆い、その先端開口部が保持治具のプレートに弾性的に当接するガードシールドとを有する。ガードシールドによって、隣合う電子部品間の相互干渉の影響を排除できる。

請求項（抜粋）：

電子部品の電気的特性を測定する装置であって、内面が絶縁され、上記電子部品を1個ずつ収納する多数の保持穴を有し、かつ保持穴の周囲に導電部を有する保持治具と、上記電子部品の端子部に弾性的に当接する接触端子と、接触端子の周囲を接触端子と電気的に絶縁した状態で覆い、その先端開口部が保持治具の導電部に弾性的に当接するガードシールドとを有するプローブと、を備えたことを特徴とする電子部品の特性測定装置。

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