特許
J-GLOBAL ID:200903018043144652

金属検出機

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 早川 誠志
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-290916
公開番号(公開出願番号):特開平5-100047
出願日: 1991年10月10日
公開日(公表日): 1993年04月23日
要約:
【要約】【目的】 金属検出機において、被検査体自身の磁界に与える影響が最も少ない状態に短時間に設定する。【構成】 磁界発生部1の送信コイル5と受信コイル6、7の間に混入金属を含まない被検査体を通過させ、その差動出力を第1の検波回路23および第2の検波回路26によって互いに90度異なる位相で検波する。位相差算出手段32は、これらの検波出力のピーク値から基準信号と差動信号との位相差θを算出して第1の移相回路20へ入力する。このため、第1の検波回路23は、被検査体自身の影響が最も少ない検波位相で次の被検査体による差動信号を検波する。
請求項(抜粋):
所定周波数の基準信号と同一周波数の磁界を発生する磁界発生部と、前記磁界の磁束を等量受ける位置に配置された1対の磁気センサと、前記1対の磁気センサの差動成分を出力する差動出力回路と、前記基準信号を、入力される位相データに応じて移相させた第1の移相基準信号を出力する第1の移相回路と、前記第1の移相基準信号に対して90度位相の異なる第2の移相基準信号を出力する第2の移相回路と、前記差動出力回路からの差動信号を、前記第1の移相基準信号によって同期検波する第1の検波回路と、前記差動出力回路からの差動信号を、前記第2の移相基準信号によって同期検波する第2の検波回路と、混入金属を含まない被検査体が前記磁界内を通過したときの前記第1の検波回路の出力信号と前記第2の検波回路の出力信号とを受けて、該被検査体の通過による前記差動信号の位相と前記基準信号との位相差を算出し、該位相差に応じた位相データを前記第1の移相回路へ出力する位相差算出手段と、前記位相差算出手段から前記第1の移相回路に位相データが入力された後に前記磁界内を通過する被検査体の混入金属の有無を、前記第1の検波回路または第2の検波回路の出力信号に基づいて判定する判定手段とを備えた金属検出機。
IPC (2件):
G01V 3/10 ,  G01V 3/08
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開昭62-032382
  • 特開平2-036390

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