特許
J-GLOBAL ID：200903018112938755
質量分析計の較正方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
山本 秀策
, 安村 高明
, 森下 夏樹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-513003
公開番号（公開出願番号）：特表2005-521030
出願日： 2002年07月11日
公開日（公表日）： 2005年07月14日
要約：
本発明は、質量分析計を較正する方法、質量分析計、およびコンピューター読み取り可能媒体(質量分析計を較正するコンピューターコードを含む)に関する。本発明の1つの実施形態は、飛行時間型質量分析計を較正する方法に関し、a)サンプル基板上の複数の異なるアドレス可能位置の各々で、較正物質についての飛行時間値、または飛行時間値から導かれる値を決定する工程;b)基板上のアドレス可能位置の1つを、基準アドレス可能位置として同定する工程;およびc)基準アドレス可能位置上の較正物質について、飛行時間値、または飛行時間値から導かれる値を用いて、基板上の各々のアドレス可能位置について複数の補正因子を算出する工程、を包含する。
請求項（抜粋）：
飛行時間型質量分析計を較正するための方法であって、該方法は、以下の工程:
a)サンプル基板上の異なる複数のアドレス可能位置の各々における較正物質についての、飛行時間値または該飛行時間値から誘導される値を決定する工程;
b)基準アドレス可能位置として、該基板上の該アドレス可能位置のうちの1つを同定する工程;および
c)該基準アドレス可能位置上の該較正物質についての、該飛行時間値または該飛行時間値から誘導される値を使用して、該基板上のそれぞれの該アドレス可能位置についての複数の補正因子を計算する工程、
を包含し、ここで、各補正因子は、該基準アドレス可能位置に対して、該複数のアドレス可能位置内のアドレス可能位置上の該較正物質についての、飛行時間値または該飛行時間値から誘導される値を較正する、
方法。
IPC (3件)：
G01N27/62
, G01N33/483
, H01J49/40
G01N27/62 K
, G01N27/62 V
, G01N33/483 E
, H01J49/40
2G045AA20
, 2G045DA36
, 2G045FA36
, 2G045JA01
, 2G045JA02
