特許
J-GLOBAL ID:200903018233015760

機構解析のためのモデル化方法とこの方法による機構解析システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 北村 修
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-101937
公開番号(公開出願番号):特開平8-297684
出願日: 1995年04月26日
公開日(公表日): 1996年11月12日
要約:
【要約】【目的】 機構解析シミュレータによって解析される機構を構成する各要素の形状情報と各要素間の関節情報とに基づいてこの機構をモデル化する作業において、機構及び解析プログラムに関する専門的な知識が十分でなくても適切な機構モデルが構築できるモデル化方法を用いた機構解析システムを提供することである。【構成】 熟練者により手動操作されたモデラー5による機構モデル生成のための処理手順を、属性データ又は物理条件データを変数として前記手順ファイル7に格納する一方、新たに入力された属性データ又は物理条件データを、前記手順ファイル7の該当変数に代入した後の前記手順ファイル7に基づいて、前記モデラー5を自動操作して新たな機構モデルを自動生成する手順コントローラ6を備えて構成する。
請求項(抜粋):
機構解析シミュレータによる解析対象たる機構モデルを構成する機構要素の属性データを入力するステップと、入力された属性データにより特定される機構要素間の接続情報を入力するステップと、前記接続情報に基づいて機構要素を接続して機構モデルを生成するステップと、生成された機構モデルの機構解析に必要な物理条件データを与えるステップとからなる機構解析のためのモデル化方法であって、前記機構要素の属性データを入力するステップから前記物理条件データを与えるステップまでの一連の操作手順を、前記属性データ又は物理条件データを変数とする基本機構モデル生成用の手順ファイルとして記録するステップと、所要の属性データ又は物理条件データを新たに入力するステップと、前記新たに入力された所要の属性データ又は物理条件データを前記手順ファイルの該当変数に代入して、新たな手順ファイルを自動生成するステップを備えている機構解析のためのモデル化方法。

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