特許

J-GLOBAL ID：200903018241478825

デバッグ用装置

発明者： 佐々木 博章 ,  永井 博
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
代理人 (1件)： 宮越 典明 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-234662
公開番号（公開出願番号）：特開2001-060781
出願日： 1999年08月20日
公開日（公表日）： 2001年03月06日
要約：

【要約】【課題】 回路モジュールの実際の使用状態に近い状態で該回路モジュールを測定でき、高速信号を持つ回路モジュールにおいても、波形の不測の変化を来すことなく測定できるデバッグ用装置を提供する。【解決手段】 電子装置のケーシング内に配置されたメイン基板に対して着脱自在であって且つ電子部品が組み込まれてなる回路モジュールの電気的特性を測定してデバッグするためのデバッグ用装置1である。回路モジュール44を、メイン基板42と電気的に接続した状態でケーシング41から実質的に出すことができる延長手段2と、延長手段2に接続されて回路モジュール44を接続可能に構成された中継手段3とを有する。

請求項（抜粋）：

電子装置のケーシング内に配置されたメイン基板に対して着脱自在であって且つ電子部品が組み込まれてなる回路モジュールの電気的特性を測定するためのデバッグ用装置であって、前記回路モジュールを、前記メイン基板と電気的に接続した状態で前記ケーシングから外に出すことができる延長手段と、前記延長手段に接続されて前記回路モジュールを接続可能に構成された中継手段とを有することを特徴とするデバッグ用装置。

IPC (3件)：

H05K 7/14 ,  G01R 31/28 ,  H05K 1/14

FI (3件)：

H05K 7/14 U ,  H05K 1/14 H ,  G01R 31/28 H

Fターム (18件)：

2G032AB01 ,  2G032AB02 ,  2G032AB20 ,  2G032AD07 ,  2G032AJ01 ,  2G032AK03 ,  2G032AK05 ,  5E344AA01 ,  5E344AA08 ,  5E344AA28 ,  5E344BB01 ,  5E344BB06 ,  5E344CC23 ,  5E344CD18 ,  5E344DD07 ,  5E344EE06 ,  5E348EF46 ,  5E348EG01