特許

J-GLOBAL ID：200903018249589901

極微量イオン分析方法及び極微量イオン分析装置

発明者： 福岡 孝司
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 青山 葆 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-364829
公開番号（公開出願番号）：特開2002-168845
出願日： 2000年11月30日
公開日（公表日）： 2002年06月14日
要約：

【要約】【課題】 超純水中の数ppt程度のイオンを高感度で分析できる極微量イオン分析方法を提供する。【解決手段】 分析対象サンプルを濃縮カラムに流して、同一の分析対象サンプルに含まれた不純物イオンを濃縮カラムで高レベルと低レベルとの二つのレベルに濃縮する(S1,S3)。濃縮カラムに溶離液を流して各レベルの不純物イオンを抽出し、これらの抽出された不純物イオンを検出器によってそれぞれ検出してクロマトグラムを得る(S2,S4)。得られたクロマトグラムの差を算出する差クロマト処理を行う(S5)。

請求項（抜粋）：

分析対象サンプルを濃縮カラムに流して、同一の分析対象サンプルに含まれた不純物イオンを濃縮カラムで高レベルと低レベルとの二つのレベルに濃縮し、上記濃縮カラムに溶離液を流して各レベルの不純物イオンを抽出し、これらの抽出された不純物イオンを検出器によってそれぞれ検出して、得られたクロマトグラムの差を算出する差クロマト処理を行うことを特徴とする極微量イオン分析方法。

IPC (5件)：

G01N 30/88 ,  B01D 15/08 ,  G01N 30/08 ,  G01N 30/46 ,  G01N 30/86

FI (5件)：

G01N 30/88 H ,  B01D 15/08 ,  G01N 30/08 L ,  G01N 30/46 A ,  G01N 30/86 J

Fターム (5件)：

4D017AA01 ,  4D017BA11 ,  4D017DA03 ,  4D017EB01 ,  4D017EB03