特許

J-GLOBAL ID：200903018309238135

プラズマイオン源質量分析装置及び分析方法

発明者： 高島 さゆり
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-101179
公開番号（公開出願番号）：特開2001-281223
出願日： 2000年03月31日
公開日（公表日）： 2001年10月10日
要約：

【要約】【課題】前処理の結果を他の分析装置で確認することを必要とせずに、試料を直接プラズマイオン源質量分析装置に導入し、測定対象元素と同時に他の共存元素が含まれる場合でも安全に測定を行えるプラズマイオン源質量分析装置を提供する。【解決手段】複数の元素が混在する試料をプラズマによってイオン化し、イオントラップ機能を備えた質量分析計で測定を行うプラズマイオン源質量分析装置において、測定者が指定した複数の元素のそれぞれについて、定量分析または定性分析、或いは予め記憶された検量線を基に半定量分析を行うことを特徴とする。【効果】通常の定量,定性分析と同時に、特定の元素に対して半定量分析を実行することが出来る。

請求項（抜粋）：

複数の元素が混在する試料をプラズマによってイオン化し、イオントラップ機能を備えた質量分析計で測定を行うプラズマイオン源質量分析装置において、測定者が指定した複数の元素のそれぞれについて、定量分析または定性分析、或いは予め記憶された検量線を基に半定量分析を行うことを特徴とするプラズマイオン源質量分析装置。

IPC (3件)：

G01N 27/62 ZAB ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/42

FI (4件)：

G01N 27/62 ZAB Y ,  G01N 27/62 L ,  G01N 27/62 D ,  H01J 49/42

Fターム (3件)：

5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ11