特許

J-GLOBAL ID：200903018336350516

磁場型質量分析装置

発明者： 藤巻奨 ,  八幡行記
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-230036
公開番号（公開出願番号）：特開2001-057174
出願日： 1999年08月16日
公開日（公表日）： 2001年02月27日
要約：

【要約】【課題】GCのキャリアガスや試料と混練されたマトリックスに由来する不要なイオンを、悪影響が出る前に予め取り除くことのできる磁場型質量分析装置を提供する。【解決手段】イオン源とイオン源レンズとの間に、マルチポールイオンガイドを設けた。また、前記マルチポール・イオンガイドの中間に、真空ディファレンシャル・スリットを設けた。

請求項（抜粋）：

イオン源とイオン源レンズとの間に、マルチポールイオンガイドを設けたことを特徴とする磁場型質量分析装置。

IPC (4件)：

H01J 49/10 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  H01J 49/30

FI (5件)：

H01J 49/10 ,  G01N 27/62 C ,  G01N 27/62 H ,  G01N 30/72 A ,  H01J 49/30

Fターム (5件)：

5C038GG01 ,  5C038GH11 ,  5C038GH13 ,  5C038HH02 ,  5C038HH05