特許

J-GLOBAL ID：200903018354424080

試験片における変形および亀裂長さを測定する方法とその装置

発明者： アンドレアス、ポール
出願人/特許権者： カール、シェンク、アクチエンゲゼルシャフト
代理人 (1件)： 佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-314451
公開番号（公開出願番号）：特開平6-027005
出願日： 1991年11月28日
公開日（公表日）： 1994年02月04日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 汎用的に採用できコスト的に有利であり正確な測定結果が得られるような試験片又は試験体における変形および又は亀裂長さを測定する方法およびその装置を提供する。【構成】 試験片80又はこの試験片に結合された要素81に相対間隔を隔てて配置された少なくとも2つの透光個所89に少なくとも1つの光帯93が当たり、試験片80又は試験体を荷重した際に透光個所89を通過する光線の相対運動が評価される。少なくとも1つの光源、試験片80に又はこの試験片に結合された要素81に相対間隔を隔てて配置された少なくとも2つの透光個所89、および透光個所89に付属された少なくとも1つの感光要素95を有している。

請求項（抜粋）：

試験片(1,20,40,60,80)に又はこの試験片に結合された要素(3,4,21,23,43,44,64,65,81)に相対間隔を隔てて配置された少なくとも2つの透光個所(5,6,24,46,47,69,89)に少なくとも1つの光帯(10,28,74,93)が当たり、試験片(1,20,40,60,80)又は試験体を荷重した際に透光個所(5,6,24,46,47,69,89)を通過する光線の相対運動が評価されることを特徴とする試験機において試験片又は試験体における変形および又は亀裂長さを測定する方法。

IPC (3件)：

G01N 3/06 ,  G01B 11/16 ,  G01N 3/08