特許

J-GLOBAL ID：200903018412848987

微小寸法修正方法およびこの方法を用いた微小寸法修正装置

発明者： 秋山 昭博 ,  樋渡 英敏 ,  吉田 一弘 ,  内海 和也 ,  山下 英児
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-150991
公開番号（公開出願番号）：特開平11-342546
出願日： 1998年06月01日
公開日（公表日）： 1999年12月14日
要約：

【要約】【課題】 生産性の向上した微小寸法修正方法およびこの方法を用いた微小寸法修正装置を提供することを目的とするものである。【解決手段】 部品本体1の高さおよびこの部品本体1の高さと被修正部2とのギャップを測定した結果に基づいて、被修正部2の上面を軟化して修正するもので、製品の組立精度が向上するものである。

請求項（抜粋）：

部品本体の高さおよびこの部品本体の高さと被修正部とのギャップを測定し、この測定結果により前記被修正部の修正量を演算した結果に基づいて、前記被修正部の上面を軟化して修正する微小寸法修正方法。

IPC (2件)：

B29C 71/00 ,  B29C 51/42

FI (2件)：

B29C 71/00 ,  B29C 51/42

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭63-030140
  
• 部品吸着高さ検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-340609   出願人：松下電器産業株式会社