特許
J-GLOBAL ID：200903018428023066
配光特性測定器
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高梨 幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-276126
公開番号（公開出願番号）：特開平8-114498
出願日： 1994年10月14日
公開日（公表日）： 1996年05月07日
要約：
【要約】【目的】 特にランプ、発光ダイオード、EL(エレクトロ・ルミネッセンス)等の各種発光源またはこれらが組込まれた光源装置が発する光の方向と強度の関係、即ち配光特性を測定する場合に好適な配光特性測定器を得ること。【構成】 空間上の測定点より発散する光束を受光してこれを像点位置に結像する対物レンズと、該対物レンズの像点位置に配置した光制限部材と、光制限部材の後方に配置し、該対物レンズの射出瞳を投影する結像レンズと、該結像レンズにより投影された該対物レンズの射出瞳の像を受光する2次元配列を成す受光素子とを含む受光系と、該受光素子からの出力をメモリする記憶手段と演算手段とを有し、該測定点における、光の進行方向とその強度を該受光素子上の受光位置と、その位置からの出力に対応づけて測定する。
請求項（抜粋）：
空間上の測定点より発散する光束を集光してこれを像点位置に結像する対物レンズと、該対物レンズの像点位置に配置した光制限部材と、光制限部材の後方に配置し、該対物レンズの射出瞳を投影する結像レンズと、該結像レンズにより投影された該対物レンズの射出瞳の像を受光する2次元配列を成す受光素子とを含む受光系と、該測定点における、光の進行方向とその強度を該受光素子上の受光位置と、その位置からの出力に対応づけて測定する演算手段とを有していることを特徴とする配光特性測定器。
IPC (3件)：
G01J 1/00
, G01J 1/42
, G01M 11/00
