特許
J-GLOBAL ID:200903018457496674
伝導材料中の構造を定義し、複製するための方法及び電極
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (5件):
青木 篤
, 石田 敬
, 古賀 哲次
, 越阪部 倫子
, 西山 雅也
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-505393
公開番号(公開出願番号):特表2004-530050
出願日: 2002年06月17日
公開日(公表日): 2004年09月30日
要約:
本発明は、電気化学的パターン複製方法、ECPR及びマイクロ及びナノ構造を含むアプリケーションの製造のための伝導電極の構築に関する。伝導電極、マスター電極(8)により定義されるエッチング又はめっきパターンは、電気伝導性の材料、基材(9)上に複製される。マスター電極(8)は基材(9)と密接して置かれ、エッチング/めっきパターンが、密接エッチング/めっきプロセスを使用して直接的に基材(9)上に転写される。密接エッチング/めっきプロセスは、マスター電極(8)と基材(9)の間の閉じた又は開放のキャビティ中の局所的なエッチング/めっきセル(12,14)中で実施される。
請求項(抜粋):
伝導電極、マスター電極(8)によって定義されるエッチング又はめっきパターンが電気的伝導性材料、及び基材(9)上に複製される、マイクロ及びナノ構造を含むアプリケーションの製造のための電気化学的パターン複製方法、ECPRであって、上記マスター電極(8)が上記基材(9)と密接に接触し、且つ、上記エッチング/めっきパターンが、局所的なエッチング/めっきセル(12,14)において接触エッチング/めっきプロセス、ここでセルが上記マスター電極(8)及び上記基材(9)の間の閉じた又は開放のキャビティ中に形成される、を使用することにより直接的に上記基材(9)上に転写されることに特徴を有する、前記方法。
IPC (3件):
C25D5/22
, C25D7/00
, C25D7/12
FI (4件):
C25D5/22
, C25D7/00 G
, C25D7/00 J
, C25D7/12
Fターム (13件):
4K024BB09
, 4K024BB11
, 4K024BB12
, 4K024CA08
, 4K024CA15
, 4K024CA16
, 4K024CB01
, 4K024CB06
, 4K024CB09
, 4K024CB26
, 4K024DB07
, 4K024DB10
, 4K024GA02
引用特許:
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