特許
J-GLOBAL ID:200903018511289680

ICテスタのテストヘッド

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 渡辺 正康 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-218556
公開番号(公開出願番号):特開平8-082656
出願日: 1994年09月13日
公開日(公表日): 1996年03月26日
要約:
【要約】【目的】 回路を有するプリント基板と電源を有するプリント基板とを高密度に実装することができるICテスタのテストヘッドを実現することを目的にする。【構成】 本発明は、被試験対象と信号の授受を行うICテスタのテストヘッドに改良を加えたものである。本装置は、回路を有し、放射状に配置される第1のプリント基板と、この第1のプリント基板の回路に電力を供給する電源を有し、放射状に配置される第2のプリント基板と、第1のプリント基板と第2のプリント基板とを電気的に接続し、第2のプリント基板が出力する電力を第1のプリント基板に供給するバスバーと、を具備することを特徴とする装置である。
請求項(抜粋):
被試験対象と信号の授受を行うICテスタのテストヘッドにおいて、回路を有し、放射状に配置される第1のプリント基板と、この第1のプリント基板の回路に電力を供給する電源を有し、放射状に配置される第2のプリント基板と、前記第1のプリント基板と前記第2のプリント基板とを電気的に接続し、第2のプリント基板が出力する電力を第1のプリント基板に供給するバスバーと、を具備することを特徴とするICテスタのテストヘッド。
IPC (3件):
G01R 31/28 ,  G01R 31/26 ,  H01L 21/66

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