特許
J-GLOBAL ID:200903018513404010

外部ストレスによる細胞内DNAの一塩基単位での切断位置と切断頻度の特定法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 社本 一夫 ,  小野 新次郎 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行 ,  深澤 憲広
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-055116
公開番号(公開出願番号):特開2007-228893
出願日: 2006年03月01日
公開日(公表日): 2007年09月13日
要約:
【課題】 本発明は、外部ストレスにより生じた細胞内DNAの切断位置を一塩基単位で特定する方法を提供することを課題とする。本発明は、また、外部ストレスにより生じた細胞内DNAの切断頻度を一塩基単位で測定する方法を提供することもまた課題とする。【解決手段】 本発明の発明者らは、外部ストレスに曝露したかもしくは内部被曝させた細胞から採取したDNAを鋳型として、標識したプライマーを使用した伸長反応により伸長させることにより、外部ストレスもしくは内部被曝の結果として切断された場合のDNA上の切断位置に応じて、種々の長さの標識された断片(断片長多型)を得ることができることを見いだし、本発明を完成させるに至った。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
a)外部ストレスに曝露したか内部被曝させた細胞から抽出したDNAを、熱変性またはアルカリ変性により二本鎖を一本鎖にし; b)標識したプライマーを一本鎖DNAにアニーリングし; c)DNAポリメラーゼを利用して、一本鎖DNAを鋳型として二本鎖DNAを合成し; d)二本鎖DNAを再び一本鎖にし、対照DNAと同時にゲル電気泳動を行い;そして e)対照DNAの電気泳動バンドと比較することにより、DNA上の切断位置を一塩基単位で特定する; ことを特徴とする、外部ストレスへの曝露または内部被曝による一塩基単位での細胞内DNAの切断位置特定法。
IPC (2件):
C12Q 1/68 ,  C12N 15/09
FI (3件):
C12Q1/68 Z ,  C12Q1/68 A ,  C12N15/00 A
Fターム (14件):
4B024AA11 ,  4B024CA01 ,  4B024CA20 ,  4B024HA13 ,  4B024HA19 ,  4B063QA01 ,  4B063QA13 ,  4B063QQ42 ,  4B063QR32 ,  4B063QR62 ,  4B063QS16 ,  4B063QS24 ,  4B063QS36 ,  4B063QX07
引用文献:
審査官引用 (4件)
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